Rp 350.000
DESKRIPSI LAYANAN | XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan dan bubuk. Persyaratan Sampel: Padat : Ukuran butir minimal 74 mikron (lolos 200…
- Laboratorium Teknologi Radiasi - Laboratorium Karakterisasi Riset Radiasi
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
KST Serpong - 08119811584
- ltkmr@brin.go.id
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan dan bubuk.
Persyaratan Sampel:
Padat :
Ukuran butir minimal 74 mikron (lolos 200 mesh)
Berat minimal 10 gr
Mohon Lampirkan foto sampel serta sebutkan unsur yang akan dianalisis
info lebih lanjut silakan hubungi Kurnia Setiawan Widana (08179167198)
Syarat Pengajuan:
Persyaratan Sampel:
Padat :
Ukuran butir minimal 74 mikron (lolos 200 mesh)
Berat minimal 10 gr
Mohon Lampirkan foto sampel serta sebutkan unsur yang akan dianalisis
info lebih lanjut silakan hubungi Kurnia Setiawan Widana (08179167198)
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
---|---|---|
Berkas SOP/Formulir/Ajuan Layanan | 1.37 MB | |
Template File Data Foto | 0 MB | |
Template File Dukung Lainnya | 0 MB |